如何攻克大尺寸液晶面板檢測難題

如何判定液晶面板是否具有“無縫銜接”的尺寸精度，高效、配置合理的檢測設(shè)備能更好的對產(chǎn)品進行高精密尺寸把控。OPTIV復(fù)合式影像測量儀憑借復(fù)合式多傳感器，為客戶的檢測難題，提供了強有力的解決方案。

影像儀解決方案——OPTIV PERFORMANCE系列影像測量儀，復(fù)合測量——探針測量+影像測量，有效保證液晶面板外觀尺寸精準(zhǔn)度。

1. 外殼：

解決外殼尺寸問題，就需要對外殼的內(nèi)輪廓尺寸，以及定位孔尺寸進行測量，由于金屬外殼的加工過程使得產(chǎn)品邊緣有倒角，如果單純用光學(xué)測量的話有時候造成較大的誤差，目前在富士康、可成、綠點體系都在用接觸的方式測量外殼和屏幕的配合尺寸，包括外殼上表面或者側(cè)面的尺寸。直測針，用于垂直測量表面的槽和臺階；帶角度的斜孔或者斜槽十字星型測針，用于側(cè)面邊槽和臺階；可以用來測量厚度，測量帶螺紋的孔或者非常薄的邊。

2. 2D平面尺寸測量：

1） CG、Pannel——2D尺寸，例如長度、寬度、揚聲器孔和位置、攝像頭孔尺寸和位置、Home鍵尺寸和位置、四角輪廓等等； 2） FPC——排線的線路線寬、線距；上面所有的PIN的間距和位置；任何接插連接的socket的中的針腳的位置和寬度等；FPC上很多的圓槽和定位孔的尺寸； 3） BLU和CG粘合的相對位置的確認(rèn)；

這些尺寸都是2Ｄ測量里基本的要求，采用光學(xué)測量（同軸光、底光、環(huán)光）

海克斯康思瑞測量設(shè)備所具備的多重捕捉功能(Multi Capture)，一次性測量整個視場內(nèi)的所有尺寸，直接提高三倍測量速度。

3. 曲面測量測量：

采用CWS白光測頭測量，Z向精度可以達到0.3um，可以測量屏幕表面的平面度、尤其可以測量透明和高反射率材料的表面形貌。

三種傳感器搭配在一臺復(fù)合式影像測量設(shè)備，一次裝夾，完成全尺寸測量。強大的PC-DMIS VISION 測量軟件，基于3D或者2D數(shù)模的編程和對比。

CAD module 選項：具有多種格式的CAD數(shù)模的導(dǎo)入、編程和測量，并能夠完成幾何關(guān)系的計算、構(gòu)造和形位公差的評價與分析，如：IGES，DWG、DXF、STEP，VDAFS，STL。

軟件具有測量數(shù)據(jù)多種通用的輸出格式，如：IGES、STEP，VDAFS, XAML, DMIS，DES，Excel，Generic，XYZ，可以用于逆向設(shè)計。

輪廓尺寸測量：具有2D輪廓掃描功能，可以自動巡邊進行輪廓掃描，對CG和TP等的輪廓和原始DXF、DWG文件進行對比。

基于以上強大的測量功能和數(shù)據(jù)處理功能，眾多玻璃廠家均采用思瑞測量復(fù)合式影像測量設(shè)備測量曲面屏，為液晶面板檢測嚴(yán)格把關(guān)。